Instrumentación Analítica

BD INSTRUMENTS

La serie X de espectrómetros FTIR

Una gama completa de espectrómetros FTIR

Datos técnicos

La serie X de espectrómetros FTIR proporciona una solución completa para la espectroscopia IR. Cada instrumento tiene características y especificaciones únicas que conducen a un rendimiento excepcional. Incluye un interferómetro sellado (45 o 28 grados) con espejos de cubo de esquina y láser de diodo (o HeNe) con tecnología AccuTrac™ DSP. La serie X incluye la suite intuitiva Spectra Manager™ con una solución de software de búsqueda integrada, KnowItAll® Informatics y la base de datos JASCO Edition

    Características del sistema de espectrómetros FTIR

    – El interferómetro se fabrica como un bloque sólido de aluminio fundido y está completamente sellado. El FT/IR-4X usa un interferómetro de Michelson de 45 grados, mientras que el 6X y el 8X usan un interferómetro de Michelson de 28 grados.
    – Los espejos de cubo de esquina corrigen automáticamente cualquier desviación de la trayectoria de la luz.
    – El láser de diodo VCSEL con control de temperatura ofrece espectroscopia de alta resolución.
    – Un detector DLATGS enfriado por Peltier altamente sensible y estable es estándar para todos los instrumentos.


    Espectrómetros FTIR FT/IR-4X

    Monitoreo en tiempo real

    El FT/IR-4X es un potente espectrómetro FTIR Mid-IR (rango de número de onda de 7800 a 350 cm -1 ), con muchas características que se encuentran en un instrumento de grado de investigación, como ventanas KRS-5 no higroscópicas para evitar daños a el interferómetro, un detector DLaTGS de temperatura controlada y una fuente de cerámica de alto rendimiento para máxima sensibilidad. La alineación óptica permanente está garantizada por los espejos de esquina cúbica (retrorreflectantes) con alineación automática para obtener la máxima energía. Con alta resolución 0,4cm -1 y una S/N superior a 35.000:1.

    Características del sistema

    – Opciones opcionales NIR e IR lejano con fuente de luz cerámica o lámpara halógena, divisor de haz de banda ancha fijo y dos posiciones de detector
    – Rango de número de onda, con detector DLaTGS estándar 7800 a 350 cm -1
    – Espejos de cubo de esquina (retrorreflectantes) con alineación de energía automática
    – Amplia gama de accesorios de muestreo con IQX Reconocimiento de accesorios para sólidos, líquidos y gases, gran compartimento de muestras, Detector DLaTGS de alta sensibilidad
    – Secciones purgables: compartimento de muestras y carcasa del detector (interferómetro como opción)
    – Escaneo rápido de hasta 80 Hz con escaneo de intervalos para una medición cinética rápida
    – Extensión del número de onda para NIR, mid-IR y far-IR
    – Cumplimiento opcional de 21 CFR parte 11, IQ OQ y GxP


    Espectrómetro RFT-8X FT-Raman

    Análisis rápido y no destructivo de muestras

    El complemento FT-Raman para el espectrómetro FT/IR-8X ofrece la opción de realizar análisis mediante absorción infrarroja o espectroscopia Raman en el mismo instrumento. Como la medición Raman se realiza mediante un accesorio externo, el cambio entre mediciones es extremadamente simple. El RFT-8X se puede utilizar para mediciones de muestras tanto macro como microscópicas.

    Características del sistema

    – Láser 1W 1064 DPSS (2 y 3W como opciones)
    – Sistema de enclavamiento de seguridad láser
    – Los espectros IR y Raman se pueden medir con el mismo hardware
    – Fácil cambio de modo macro a micro (opcional)
    – Mapeo de muestra opcional para el modo micro
    – Etapa de muestra horizontal para muestreo simple
    – Etapas de muestra con control de temperatura (opción)
    – Diferentes modos de observación (opción)

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